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　　Decap即開封，也稱開蓋、開帽，指給完整封裝的IC做局部腐蝕，使得IC可以暴露出來，同時保持芯片功能的完整無損, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-不受損傷, 為下一步芯片失效分析實驗做準備，方便觀察或做其他測試（如FIB,EMMI），Decap后功能正常。

去封范圍
普通封裝 COB、BGA、QFP、 QFN、SOT、TO、 DIP、BGA、COB 陶瓷、金屬等其它特殊封裝。

激光開封機臺(Laser Decap)產品特點
• 對銅制程器件有很好的開封效果，良率高于90%。
• 對環境及人體污染傷害較小。
• 開封效率是普通酸開封機臺的3~5倍。
• 電腦控制開封，操作簡單。
• 設備穩定。
• 開封價格低，速度快。